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基础练习 芯片测试

2019-11-08 02:46:30
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供稿:网友

问题描述  有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。  每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。  给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。输入格式  输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。  第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。输出格式  按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号样例输入31 0 10 1 01 0 1样例输出1 3

问题描述

#include<iostream>#include<string>#include<cstdio>#include<cstring>#include<set>#define N 100using namespace std;int main(){	int i,j,n;	int array[N][N];	set<int> s;	set<int> ::iterator  pos;	s.clear();	cin>>n;	for(i=0;i<n;i++)		for(j=0;j<n;j++)			cin>>array[i][j];	for(i=0;i<n;i++)	{		int flag=0;		for(j=0;j<n;j++)		{			if( i!=j && array[i][j]==1 )			{				flag=1;				if(array[j][i]!=1)					break;			}		}		if(j==n && flag==1)			s.insert(i+1);	}		for(pos=s.begin();pos!=s.end();pos++)		cout<<(*pos)<<" ";	cout<<endl;	return 0;}


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